عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
تعداد ۲ پاسخ غیر تکراری از ۲ پاسخ تکراری در مدت زمان ۰,۳۱ ثانیه یافت شد.
1. Accelerating test, validation and debug of high speed serial interfaces
استناد
اطلاعات استناد دهی
BibTex (مخصوص کاربران)
RIS (مخصوص کاربران)
Endnote (مخصوص کاربران)
Refer (مخصوص کاربران)
Mark (مخصوص کتابخانه ها)
پدیدآورنده :
کتابخانه:
كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران
(
مازندران
)
موضوع :
Interface circuits ; Testing. ; Very high speed integrated circuits ; Testing. ;
رده :
2. Accelerating test, validation and debug of high speed serial interfaces
استناد
اطلاعات استناد دهی
BibTex (مخصوص کاربران)
RIS (مخصوص کاربران)
Endnote (مخصوص کاربران)
Refer (مخصوص کاربران)
Mark (مخصوص کتابخانه ها)
پدیدآورنده :
Fan, Yongquan.,Yongquan Fan, Zeljko Zilic
کتابخانه:
كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان
(
کردستان
)
موضوع :
، Interface circuits, Testing,، Very high speed integrated circuits, Testing
رده :
»
1
«
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح