61. Tutorial--VLSI testing & validation techniques
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: Testing ، Integrated circuits-- Very large scale integration
رده :
TK
7874
.
T8855
1985
62. Tutorial test generation for VLSI chips
المؤلف: ]edited by[ Vishwani D. Agrawal and Sharad C. Seth
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits,، Automatic checkout equipment
رده :
TK
7874
.
T8857
1988
63. Unified methods for VLSI simulation and test generation
پدیدآورنده : by Kwang-Ting Cheng and Vishwani D. Agrawal
موضوع : Integrated circuits- Very large scale integration- Computer-aided design,Integrated circuits- Very large scale integration- Testing,Integrated circuits- Very large scale integration- Computer simulation
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
64. VLSI design and test :
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Integrated circuits ; Very large scale integration ; Testing ;
65. VLSI test principles and architectures
المؤلف: / edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing,Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design
رده :
TK
7874
.
75
.
V587
2006
66. VLSI test principles and architectures :
المؤلف: edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,Circuits intégrés à très grande échelle-- Conception et construction.,Circuits intégrés à très grande échelle-- Essais.,Circuitos integrados vlsi.,COMPUTERS-- Logic Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- Logic.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- VLSI & ULSI.,Testen,VLSI
رده :
TK7874
.
75
.
V587
2006eb
67. VLSI testing
المؤلف: edited by T.W. Williams
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
V5666
1986
68. VLSI testing :
المؤلف: Stanley L. Hurst
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing
69. VLSI testing: digital and mixed analogue/digital techniques
المؤلف: Hurst, Stanley L.
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing
رده :
TK
7874
.
H8882
1998
70. VLSI testing : digital and mixed analogoue /digital techniques
المؤلف: Hurst, S. L.
المکتبة: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع: Testing ، Integrated circuits - Very large scale integration
رده :
TK
7874
.
H8
1998
71. VLSI testing: digital and mixed analogue/ digital techniques
المؤلف: Hurst, Stanley L.
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
H87
1998
72. chip test architectures-on-System
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Systems on a chip ; Testing. ; Integrated circuits ; Very large scale integration ; Testing. ; Integrated circuits ; Very large scale integration ; Design. ;
73. delay defects-Test and diagnosis for small
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Integrated circuits ; Very large scale integration ; Defects. ; Integrated circuits ; Very large scale integration ; Testing. ; Delay faults (Semiconductors) ;
74. metric CMOS VLSI circuits-oriented testing for nano-Defect
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Integrated circuits ; Very large scale integration ; Defects. ; Integrated circuits ; Very large scale integration ; Testing. ; Metal oxide semiconductors, Complementary ; Defects. ; Metal oxide semiconductors, Complementary ; Testing. ;
