61. VLSI design for manufacturing : yield enhancement
پدیدآورنده : Director, Stephen W.
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)
موضوع : ، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction- Data processing,، Computer- aided design
![](/design/images/bookmore.png)
62. VLSI design for manufacturing : yield enhancement
پدیدآورنده : Director, Stephen W.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration - Design and construction - Data processing ، Integrated circuits,، Computer-aided design
رده :
TK
7874
.
D555
1990
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
63. VLSI testing: digital and mixed analogue/digital techniques
پدیدآورنده : Hurst, Stanley Leonard
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction-- Data processing
رده :
TK
7874
.
H8842
1998
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
64. Yield simulation for integrated circuits
پدیدآورنده : Walker, Duncan Moore Henry.
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)
موضوع : ، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction- Mathematical models,، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction- Data processing,، Integrated circuits- Very large scale integration- Defects- Mathematical models,، Integrated circuits- Very large scale integration- Defects- Data processing,، Monte Carlo method
![](/design/images/bookmore.png)