81. Coordinate metrology : accuracy of systems and measurements
المؤلف: Sladek, Jerzy A.
المکتبة: (طهران)
موضوع: ، Metrology,، Measurement
رده :
QC
88
.
S56C6
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
82. Cranfield Institute of Technology
المؤلف: /P. A Mckeown
المکتبة: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (طهران)
موضوع:
![](/design/images/bookmore.png)
83. Data Modeling for Metrology and Testing in Measurement Science (Modeling and Simulation in Science, Engineering and Technology)
المؤلف: Franco Pavese Alistair B. Forbes
المکتبة: مكتبة حرم كيش الدولي بجامعة طهران (هرمزکان)
موضوع: Civil Engineering
![](/design/images/bookmore.png)
84. Data modeling for metrology and testing in measurement science
المؤلف: / Franco Pavese, Alistair B. Forbes, editors
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Measurement.,Metrology.,Metrologie--Datenanalyse--Statistisches Modell.--swd,Datenanalyse--Metrologie--Statistisches Modell.--swd,Statistisches Modell--Datenanalyse--Metrologie.--swd
رده :
QA
,
465
,.
D26
,
2009
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
85. Data modeling for metrology and testing in measurement science
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Measurement. ; Metrology. ; Metrologie ; Datenanalyse ; Statistisches Modell. ; swd. ; Datenanalyse ; Metrologie ; Statistisches Modell. ; swd. ; Statistisches Modell ; Datenanalyse ; Metrologie. ; swd. ;
![](/design/images/bookmore.png)
86. Data modeling for metrology and testing in measurement science
المؤلف: Franco Pavese, Alistair B. Forbes, editors
المکتبة: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع: ، Measurement,، Metrology,، Metrologie- Datenanalyse- Statistisches Modell.$2 swd,، Datenanalyse- Metrologie- Statistisches Modell.$2 swd,، Statistisches Modell- Datenanalyse- Metrologie.$2 swd
رده :
QA
465
.
D26
2009
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
87. Data modeling for metrology and testing in measurement science /
المؤلف: Franco Pavese, Alistair B. Forbes, editors
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Measurement,Metrology
رده :
QA465
.
D38
2009
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
88. Development of Metrology for Modern Biology.
المؤلف: Sang-Ryoul Park
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Open Access Collection.
رده :
TB9
.
S264
2012
![](/design/images/bookmore.png)
89. Digital Optical Measurement Techniques and Applications.
المؤلف:
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Image processing-- Digital techniques.,Optical measurements.,Image processing-- Digital techniques.,Optical measurements.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Mechanical.
رده :
QC367
.
D55
2015
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
90. Digital and social media marketing :
المؤلف: Nripendra P. Rana [and others], editors.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Internet marketing.,Internet marketing.
رده :
HF5415
.
1265
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
91. Digital holographic methods :
المؤلف: Stephan Stuerwald.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Digital holographic microscopy.,Optical tweezers.,Biological and Medical Physics, Biophysics.,Biomedical Engineering.,Microwaves, RF and Optical Engineering.,Nanoscale Science and Technology.,Optics, Lasers, Photonics, Optical Devices.,Spectroscopy and Microscopy.,Biomedical engineering.,Biophysics.,Digital holographic microscopy.,Laser technology & holography.,Microwave technology.,Nanotechnology.,Optical tweezers.,Science-- Life Sciences-- Biophysics.,Science-- Nanostructures.,Science-- Spectroscopy & Spectrum Analysis.,Spectrum analysis, spectrochemistry, mass spectrometry.,Technology & Engineering-- Engineering (General).,Technology & Engineering-- Lasers & Photonics.,Technology & Engineering-- Microwaves.
رده :
QH205
.
2
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
92. Digital holography for MEMS and microsystem metrology
المؤلف: edited by Anand Asundi.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Holographic testing.,Image processing-- Digital techniques.,Microelectromechanical systems-- Measurement.,Microelectronics-- Measurement.
رده :
TK7875
.
D54
2011eb
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
93. Digital holography for MEMS and microsystem metrology
المؤلف: edited by Anand Asundi.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Holographic testing.,Image processing-- Digital techniques.,Microelectromechanical systems-- Measurement.,Microelectronics-- Measurement.
رده :
TK7875
.
D54
2011eb
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
94. Digital holography for MEMS and microsystem metrology
المؤلف: / edited by Anand Asundi
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Microelectromechanical systems, Measurement,Microelectronics, Measurement,Holographic testing,Image processing, Digital techniques
رده :
TK7875
.
D54
2011
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
95. Digitale Signalverarbeitung in der Messtechnik /
المؤلف: Michael Möser (Hrsg.).
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Metrology.,Signal processing-- Digital techniques.,Metrology.,Signal processing-- Digital techniques.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Mechanical.
رده :
TK5102
.
9
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
96. Distributed large-scale dimensional metrolog
المؤلف: / Fiorenzo Franceschini ... [et al.
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Metrology,Electronic books., local
رده :
E-BOOK
![](/design/images/bookmore.png)
97. Distributed large-scale dimensional metrolog new insights
المؤلف: Franceschini, Fiorenzo.,Fiorenzo Franceschini ... ]et al.
المکتبة: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع: ، Metrology,، Electronic books., local
رده :
QC
88
.
D57
2011
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
98. Distributed large-scale dimensional metrology
المؤلف: / Fiorenzo Franceschini ... [et al.]
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Metrology.
![](/design/images/bookmore.png)
99. ENGINEERING METROLOGY
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزي دانشكده نفت اهواز (خوزستان)
موضوع:
رده :
T
,
50
,
A
,
57
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
100. EUV sources for lithography
المؤلف: [edited by] Vivek Bakshi.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Extreme ultraviolet lithography.,Lithography.,Plasma (Ionized gases),Ultraviolet radiation-- Industrial applications.
رده :
QC459
.
E98
2006eb
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)