1. Advances in communication, network, and computing :
المؤلف: Vinu V. Das, Janahanlal Stephen (eds.).
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Computer networks -- Congresses.,Data mining -- Congresses.,Image processing -- Digital techniques -- Congresses.
2. An introduction to logic circuit testing /
المؤلف: Parag K. Lala
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Digital electronics-- Testing,Electric fault location,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Logic circuits-- Testing
3. Analog Signal Generation for Built-In-Self-Test of Mixed-Signal Integrated Circuits
المؤلف: by Gordon W. Roberts, Albert K. Lu.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Computer engineering.,Engineering.,Systems engineering.
4. Automata, Languages and Programming :
المؤلف: edited by Josep Diaz.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Computer programming.,Computer science.,Computers.
5. Automated and algorithmic debugging :
المؤلف: Peter A Fritzson
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Computer Science.,Debugging in computer science -- Congresses.,Engineering & Applied Sciences.
6. Comprehensive functional verification the complete industry cycle /
المؤلف: Bruce Wile, John C. Goss, Wolfgang Roesner.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Computer engineering.,Integrated circuits-- Verification.,Computer engineering.,COMPUTERS-- Logic Design.,Integrated circuits-- Verification.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- Logic.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- VLSI & ULSI.
رده :
TK7874
.
58
.
W55
2005eb
7. Computer Aided Verification :
المؤلف: edited by Rajeev Alur, Thomas A. Henzinger.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Computer science.,Logic design.,Software engineering.
8. Computer logic, testing, and verification
المؤلف: Roth, J. Paul)John Paul(
المکتبة: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع: ، Logic circuits,، Logic design
رده :
TK
7888
.
4
.
R67
1980
9. Computer logic,testing & verification
المؤلف: ROTH,JOHN PAUL
المکتبة: (طهران)
موضوع: LOGIC CIRCUITS , LOGIC DESIGN
رده :
TK
7888
.
4
.
R67
10. Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
المؤلف: by Manoj Sachdev.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Computer engineering.,Engineering design.,Engineering.
11. Dependable computing--EDCC-1 :
المؤلف: Klaus Echtle, Dieter Hammer, David Powell, eds.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Electronic digital computers -- Reliability -- Congresses.,Fault-tolerant computing -- Congresses.,Tolérance aux fautes (Informatique) -- Congrès.
رده :
QA76
.
9
.
F38
K538
1994
12. Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertaint
المؤلف: / by Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Engineering,Computer hardware,Computer science,Logic design,Operating systems (Computers),Algebra, Data processing,Systems engineering,Electronic books
رده :
E-BOOK
13. Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
المؤلف: \ Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes
المکتبة: کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی (قم)
موضوع: Logic circuits -- Design,Logic circuits -- Testing,Uncertainty (Information theory),مدارهای منطقی -- طراحی,مدارهای منطقی -- آزمایش,عدم قطعیت (نظریه اطلاعات)
رده :
E-Book
,
14. Design, analysis and test of logic circuits under uncertainty
المؤلف: Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Logic circuits-- Design,Logic circuits-- Testing,Uncertainty (Information theory)
رده :
TK7868
.
L6
K75
2013
15. Design and test of digital circuits by quantum-dot cellular automata /
المؤلف: Fabrizio Lombardi, Jing Huang, editors.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Cellular automata.,Digital electronics-- Design and construction.,Digital electronics-- Testing.,Nanoelectronics.,Quantum computers.,Quantum dots.,Cellular automata.,Digital electronics-- Design and construction.,Digital electronics-- Testing.,Nanoelectronics.,Quantum computers.,Quantum dots.
رده :
TK7874
.
88
.
D47
2008eb
16. Design and test technology for dependable systems-on-chip
المؤلف: Raimund Ubar, Jaan Raik, and Heinrich Theodor Vierhaus, editors.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Networks on a chip-- Design and construction.,Networks on a chip-- Testing.,Systems on a chip-- Design and construction.,Systems on a chip-- Testing.
17. Design and testing of reversible logic
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Logic circuits ;
18. Design of testable logic circuits
المؤلف: R.G. Bennetts
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اطلاع رساني دانشگاه شاهد (طهران)
موضوع: Logic circuits,Logic circuits--Testing
رده :
TK
،
7868
،.
L6
,
B45
،
1984
19. Design of testable logic circuits
المؤلف: Bennetts, R.G.
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Logic circuits,Logic circuits - Testing
رده :
TK
7868
.
L6
B45
1984
20. Design of testable logic circuits
المؤلف: BENNETTS,R G
المکتبة: (طهران)
موضوع: LOGIC CIRCUITS , LOGIC CIRCUITS-TESTING
رده :
TK
7868
.
L6
B45
1984
