1. ......................

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)

موضوع : Defects - Defects - Congresses ، Crystals,Congresses ، X-ray crystallography

رده :
QD
921
.
N38
1979

2. High resolution X-ray diffractometry and topography

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)

موضوع : X-ray crystallography.,X-rays- Diffraction.,Crystals

رده :
‭
QD945
‬ ‭.
B683
1998
‬

3. X-ray metrology in semiconductor manufacturing

پدیدآورنده :

موضوع : ، Semiconductors- Design and construction- Quality control,، Integrated circuits- Measurement,، Semiconductor wafers- Inspection,، X-rays- Diffraction,، Fluroscopy

۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.

4. X-ray metrology in semiconductor manufacturing

پدیدآورنده :

کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)

موضوع : Semiconductors--Design and construction--Quality control,Integrated circuits--Measurement,Semiconductor wafers--Inspection,X-rays--Diffraction,Fluroscopy

رده :
TK7874
.
58
.
B69
2006

5. X-ray metrology in semiconductor manufacturing

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)

موضوع : Semiconductors- Design and construction- Quality control,Integrated circuits- Measurement,Semiconductor wafers- Inspection,X-rays- Diffraction,Fluroscopy

رده :
TK7874
.
58
.
B69
2006

6. X-ray metrology in semiconductor manufacturing

پدیدآورنده :

کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)

موضوع : Semiconductors , Design and construction , Quality control,Integrated circuits , Measurement,Semiconductor wafers , Inspection,X-rays , Diffraction,Fluroscopy

رده :
E-BOOK

7. ray diffractometry and topography /-High resolution X

کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)

موضوع : rays ; Diffraction. ; Crystals. ; -ray crystallography. ; X-X