21. GMAT 800
المؤلف: Eric Goodman and the staff of Kaplan Test Prep and Admissions.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Business studies.,Graduate Management Admission Test -- Study guides.
22. GMAT exam prep
المؤلف: Steven W. Dulan and the Faculty of Advantage Education.Graduate Management Admission Test exam prep
المکتبة: (کرمان)
موضوع: Graduate Management Admission Test,Management
رده :
HF
1118
.
D85
2007
23. GRE Graduat Record Examination
المؤلف: / by the staff of Kaplan Test Prep and Admissions
المکتبة: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه علامه طباطبایی (طهران)
موضوع:
رده :
LB2367
,.
4
،.
G67
2013
24. GRE exam
المؤلف: / by the staff of Kaplan Test and Admissions,At head of title: Kaplan.
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Graduate Record Examination- Study guides- Periodicals,Educational tests and measurements- Periodicals
رده :
LB2367
.
4
.
G725
2006
25. GRE exam
المؤلف: the staff of Kaplan Test Prep and Admissions
المکتبة: كتابخانه مركزي دانشگاه شهركرد (جهار محال و بختیاري)
موضوع: Graduate Record Examination Study guides,Universities and colleges United States- Graduate work- Admission,Universities and colleges United States- Graduate work- Entrance examinations Study guides
رده :
{
1648
},
4f91aa6554ce579660703df1983498c3
26. GRE exam: Comprehensive program
المؤلف: By the staff of Kaplan Test Prep and Admissions
المکتبة: كتابخانه دانشكده ادبیات و علوم انسانی دانشگاه كاشان (أصبهان)
موضوع: Universities and colleges- Iran- Examinations,Graduate Record Examination- Study guides,English language- Examinations, questions, etc
رده :
378
.
1664
G786
Ed
.
2007
27. GRE exam : comprehensive program
المؤلف: by the staff of Kaplan Test Prep and Admissions
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع: Study guides Periodicals ، Graduate Record Examination,Periodicals ، Educational tests and measurements,Graduate work Admission ، Universities and colleges - United States
رده :
LB
2367
.
4
.
G7253
2006
28. GRE exam: comprehensive program
المؤلف: By the staffe of kaplan test prep and admissions
المکتبة: کتابخانه دانشکده کارآفرینی دانشگاه تهران (طهران)
موضوع: Graduate Record Examination -- Study guides,Universities and colleges -- United states -- Graduate work
رده :
LB
2367
.
4
.
K37
2005
29. GRE exam verbal workbook /
المؤلف: by the staff of Kaplan Test Prep and Admissions.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: English language-- Examinations, Study guides.,Graduate Record Examination, Study guides.,English language-- Examinations.,Graduate Record Examination.
رده :
LB2367
.
4
.
Gre
2004
30. GRE فیزیک
المؤلف: /مولف جوزف. جی، مولیتوریس,عنوان اصلی: The best test preparation for the GRE, graduate record examination, in physics, 1994.,مولیتوریس,Molitoris
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: فیزیک,آزمون دوره‌های تحصیلات تکمیلی, -- آزمون‌ها و تمرین‌ها, -- راهنمای مطالعه
رده :
QC
۳۲
/
م
۷۷
پ
۴۱
31. Heinle & Heinle,s complete guide to the TOEFL test, CBT ed
المؤلف: / Bruce Rogers,Portion of Title: Complete guide to the TOEFL test.
المکتبة: مكتبة ومركز معلومات جامعة الإمام الرضا العالمية (خراسان رضوی)
موضوع: English language--Textbooks for foreign speakers,Test of English as a foreign language--Study guides,English language--Examinations--Study guides
رده :
PE1128
.
R63
2001
32. #2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing
المؤلف: #sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee , edited by Yashwant K. Malaiya, Manoj Sachdev, Sankaran M. Menon
المکتبة: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (أصبهان)
موضوع: Semiconductors- Defects- Congresses
رده :
#
QC
،#.
D4
,
I54
،#
2000
33. 2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing, April 30, 2000, Montreal, Canada
المؤلف: sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee; edited by Yashwant K. Malaiya, Manoj Sachdev, Sankaran M. Menon
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Testing -- Congresses ، Metal oxide semiconductors, Complementary,Congresses ، Iddq testing,Defects -- Congresses ، Integrated circuits
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
2000
34. IEEE standard Tests access port and boundary-scan architecture
المؤلف: sponsor test technology standards committee of the IEEE computer society
المکتبة: (سمنان)
موضوع: Testing Data processing ، Electronic circuits,، Computer architecture,، Boundary scan testing
رده :
TK
7867
.
E54
2001
35. IEEE standard for parametric data log format
المؤلف: / sponsor, IEEE Standards Coordinating Committee 20 on Test and Diagnosis for Electric Systems
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Electric power systems , Testing , Standards
رده :
E-BOOK
36. IEEE standard test access port and boundary-scan architecture
المؤلف: / Sponsor, Test Technology Standards Committee of the IEEE Computer Society
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Integrated circuits--Testing--Standards,Boundary scan testing--Standards
37. Improved operational testing and evaluation :
المؤلف: Panel on Operational Test Design and Evaluation of the Interim Armored Vehicle, Committee on National Statistics, Division of Behavioral and Social Sciences and Education, National Research Council of the National Academies.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Armored vehicles, Military-- United States-- Evaluation.,Armored vehicles, Military-- United States-- Testing.,Tanks (Military science)-- United States.,Armored vehicles, Military-- Evaluation.,Armored vehicles, Military-- Testing.,Armored vehicles, Military-- United States-- Evaluation.,Armored vehicles, Military-- United States-- Testing.,Tanks (Military science),Tanks (Military science)-- United States.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Military Science.,United States., 7
رده :
UG446
.
5
.
I47
2004eb
38. Improved operational testing and evaluation :
المؤلف: Panel on Operational Test Design and Evaluation of the Interim Armored Vehicle, Committee on National Statistics, Division of Behavioral and Social Sciences and Education, National Research Council of the National Academies.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Armored vehicles, Military-- United States-- Evaluation.,Armored vehicles, Military-- United States-- Testing.,Armored vehicles, Military-- Evaluation.,Armored vehicles, Military-- Testing.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Military Science.,United States., 7
رده :
UG446
.
5
.
N38
2003xeb
39. Industrial Methods for the Effective Testing and Development of Defense Systems
المؤلف: / Panel on Industrial Methods for the Effective Test and Development of Defense Systems
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: ENGINEERING, INDUSTRIAL|ENGINEERING, MULTIDISCIPLINARY
رده :
E-BOOK
40. Industrial methods for the effective development and testing of defense systems /
المؤلف: Panel on Industrial Methods for the Effective Test and Development of Defense Systems, Committee on National Statistics, Division of Behavioral and Social Sciences and Education, Board on Army Science and Technology, Division on Engineering and Physical Sciences, and National Research Council of the National Academies
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Industrial engineering-- Development-- Testing,Industrial engineering-- Statistical methods,Military research-- United States
رده :
T57
.
35
.
N38
2012
