42361. Writing wrongs: the cultural construction of human rights in India
پدیدآورنده : Nayar, Pramod K
کتابخانه: (قم)
موضوع : ، Writing
رده :
PN
147
.
N3
.
W8
42362. Writings of G.K. Nariman, orientalist and linguist
پدیدآورنده : Nariman, G. K. )Gushtaspshah Kaikhushro(
کتابخانه: المکتبه المرکزیه لاکادمیه اللغه الفارسیه و آدابها (طهران)
موضوع : ، Philologists - Biography,، Nariman, G.K. 3781-3391,، Philology
رده :
P
85
.
N3
42363. Written reliquaries :the resonance of orality in medieval English texts
پدیدآورنده : Arnovick, Leslie K.
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه الزهراء (س) (طهران)
موضوع : Social aspects ، Discourse analysis, Narrative,History and criticism Theory, etc ، Literature, Medieval,، English philology - Middle English, 0011-0051,، Dialogue in literature
رده :
P
302
.
7
.
A76
2006
42364. Wrought iron in architecture :an illustrated survey
پدیدآورنده : Gerald K. Geerlings
کتابخانه: کتابخانه پردیس هنرهای زیبا دانشگاه تهران (طهران)
موضوع : Architectural ironwork,Wrought-iron,Decoration and ornament, Architectural
رده :
NA
3950
.
G4
42365. Wrought iron railings, doors and gates;
پدیدآورنده : translated [from the German] by E. H. F. Ostarhild; associate editor H. J. Meier-Menzel, T. Gatz and K. Halmburger.
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه تهران (طهران)
موضوع : Architectural ironwork.,Hand-railing.,Doors.,Gates.
رده :
NA3950
.
W73
1966
42366. X-Ray Measurements in the Auroral Zone from July to October 1964
پدیدآورنده : by G. Kremser, E. Keppler, A. Bewersdorff, K.H. Saeger, A. Ehmert, G. Pfotzer, W. Riedler, J.P. Legrand.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Geography.,Physics.
رده :
QC879
.
B945
1965
42367. X-Ray and Electron Probe Analysis in Biomedical Research
پدیدآورنده : edited by K. M. Earle, A. J. Tousimis.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Chemistry, Physical organic.,Chemistry.
42368. X-ray and electron probe analysis in biomedical research
پدیدآورنده : Edited by K. M., Earle and A. J. Tousimis
موضوع : X-ray spectroscopy,Probes(Electronic instruments)
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
42369. X-ray and neutron dynamical diffraction
پدیدآورنده : / edited by Andrae Authier, Stefano Lagomarsino, and Brian K. Tanner
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : X-rays, Diffraction, Congresses,Neutrons, Diffraction, Congresses,X-ray crystallography, Congresses,Interferometry, Neutron, Congresses
رده :
QC482
.
D5
X68
,
1996
42370. X-ray diffraction studies of membranes
پدیدآورنده : Levine, J K
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه الزهراء (س) (طهران)
موضوع : ، Membranes )Biology(,، X-rays- Diffraction
رده :
QD
506
.
P76
42371. X-ray diffraction topography /
پدیدآورنده : by B.K. Tanner.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : X-ray crystallography.
رده :
QD945
.
T36
1976
42372. X-ray diffraction topography
پدیدآورنده : Tanner, B. K.)Brian Keith(
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع : ، X-ray crystallography
رده :
QD
945
.
T36
1976
42373. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Semiconductors--Design and construction--Quality control,Integrated circuits--Measurement,Semiconductor wafers--Inspection,X-rays--Diffraction,Fluroscopy
رده :
TK7874
.
58
.
B69
2006
42374. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع : Semiconductors- Design and construction- Quality control,Integrated circuits- Measurement,Semiconductor wafers- Inspection,X-rays- Diffraction,Fluroscopy
رده :
TK7874
.
58
.
B69
2006
42375. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Semiconductors , Design and construction , Quality control,Integrated circuits , Measurement,Semiconductor wafers , Inspection,X-rays , Diffraction,Fluroscopy
رده :
E-BOOK
42376. X-ray spectroscopy: An introduction
پدیدآورنده : B. K. Agarwal
کتابخانه: (کرمان)
موضوع : X-ray spectroscopy
رده :
QC
482
.
S6
,
A34
1991
42377. X-ray spectroscopy: An introduction
پدیدآورنده : B. K. Agarwal
کتابخانه: (کرمان)
موضوع : X-ray spectroscopy
رده :
QC
482
.
S6
,
A34
1991
42378. X-ray spectroscopy: An introduction
پدیدآورنده : B. K. Agarwal
موضوع : X-ray spectroscopy
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
42379. X-ray spectroscopy : an introduction
پدیدآورنده : Agarwal, B. K.)Bipin Kumar(
کتابخانه: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع : ، X-ray spectroscopy
رده :
QC
482
.
S6
A34
42380. X-ray spectroscopy : an introduction
پدیدآورنده : Agarwal, B. K.)Bipin Kumar(
کتابخانه: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع : ، X-ray spectroscopy,، Spectrum analysis,، X-rays
رده :
QC
482
.
S6
A34
1991
