1. Microelectronics failure analysis: desk reference
المؤلف: / edited by Thomas W.Lee, Seshu V.Pabbisetty
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Electronics- Materials- Testing- Handbooks, Manuals, etc,Microelectronics- Materials- Testing- Handbooks, Manuals, etc,Microelectronics- Materials- Defects- Handbooks, Manuals, etc,Electronic apparatus and appliances- Testing- Handbooks, Manuals, etc
رده :
TK7870
.
M38
1993

