تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۱ پاسخ تکراری در مدت زمان ۱,۲۸ ثانیه یافت شد.

1. Defects in microelectronic materials and devices

پدیدآورنده : / edited by Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. Schrimpf

کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)

موضوع : Microelectronics--Materials--Testing,Metal oxide semiconductor field-effect transistors--Testing,Integrated circuits--Defects

رده :

TK7871

.

D44

2009

»
1
«

تتم إدارة هذا الموقع عبر مؤسسة دار الحديث العلمية - الثقافية ومركز البحوث الكمبيوترية للعلوم الإسلامية (نور)
المكتبات هي المسؤولة عن صحة المعلومات كما أن الحقوق المعنوية للمعلومات متعلقة بها