1. Defect and microstructure analysis by diffraction
المؤلف: / Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala and Hans J. Nunge
المکتبة: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Crystals - Defects - Analysis,Diffraction,X-ray crystallography
رده :
QD945
.
S58
1999