1. Characterization of semiconductor materials
پدیدآورنده : KANE,PHILIP F
کتابخانه: (طهران)
موضوع : SEMICONDUCTORS
رده :
QC
612
.
S4
K26
2. Characterization of semiconductor materials
پدیدآورنده : Kane, Philip F , 0291-
موضوع : ، Semiconductors
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
3. Characterization of solid surfaces
پدیدآورنده : / edited by Philip F. Kane, Graydon Larrabee
کتابخانه: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Solid,Surfaces (Technology),Metalography,Surfaces chemistry
رده :
QC176
.
K33
4. Characterization of solid surfaces
پدیدآورنده : Kane, Philip F.
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : ، Solids,، Surfaces )Technology(,، Metallography,، Surface chemistry
رده :
QC
176
.
K33
5. Characterization of solid surfaces
پدیدآورنده : / edited by Philip F. Kane and Grayd B. Larrabee
کتابخانه: المكتبة المركزية ومركز الأرشيف (طهران)
موضوع : Solids,Surfaces (Technology),Metallography,Surface chemist
رده :
541
.
3453
C469
6. Characterization of solid surfaces
پدیدآورنده : Kane, Philip F.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : ، Solids,، Surfaces )Technology(,، Metallography,، Surface chemistry
رده :
QC
176
.
K33
7. Charaterization of semiconductor materials
پدیدآورنده : Kane, Philip F.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : ، Semiconductors
رده :
QC
612
.
S4
K26
