41. Limiting the arbitrary :
پدیدآورنده : John E. Joseph
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Plato., Cratylus,Language and languages-- Philosophy,Naturalness (Linguistics)
رده :
P106
.
J67
2000
42. Linguistic Theory and grammatical Description
پدیدآورنده : \ edited by Flip G. Droste and John E. Joseph.
کتابخانه: کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی (قم)
موضوع : Grammar, Comparative and general.
رده :
P151
.
L49
1991
E-book
,
43. Modern chemistry
پدیدآورنده : Metcalfe, H. Clark,H. Clerk Metcalfe, John E. Williams, Joseph F. Castka
کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع : ، Chemistry
رده :
QD
33
.
M6
1982
44. Molecular diagnosis of cancer
پدیدآورنده : / edited by Joseph E. Roulston and John M. S. Bartlett
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه علوم بهزیستی و توانبخشی (طهران)
موضوع : Neoplasms--diagnosis,Neoplasms--genetics,Polymerase Chain Reaction--methods
45. Molecular diagnosis of cancer
پدیدآورنده : / edited by Joseph E. Roulston and John M. S. Bartlett
کتابخانه: مكتبة كلية الطب و مركز التعلم (طهران)
موضوع : Cancer- Molecular diagnosis,Neoplasms- diagnosis,Neoplasms- genetics,Polymerase Chain Reaction- methods
رده :
RC270
.
M64
2004
46. Molecular principles of fungal pathogenesis
پدیدآورنده : edited by Joseph Heitman, Scott G. Filler, John E. Edwards, Jr., and Aaron P. Mitchell.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Fungi -- pathogenicity.,Histology, Pathological.,Pathogenic fungi -- Molecular aspects.
رده :
QR245
.
E358
2006
47. Opportunities in engineering technology careers
پدیدآورنده : /John E. Heer, Jr, D. Joseph Hagerty.
کتابخانه: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (طهران)
موضوع : مهندسی, -- راهنمایی شغلی
رده :
TA
۱۵۷
/
ھ
۹
آ
۲ ۱۳۵۴
48. Our feature presentation
پدیدآورنده : Joseph E. Champoux ; ]edited by[ Jack Calhoun, Dave Shaut, John Szilagyi,Title
کتابخانه: کتابخانه و مرکز اسناد پژوهشگاه فرهنگ، هنر و ارتباطات (طهران)
موضوع : shotion picture industry -- personnel managment,personnel managment -- study and teaching
رده :
HF
C436
5549
2005
49. Our feature presentation
پدیدآورنده : Joseph E. Champoux ;؛[edited by] Jack Calhoun, Dave Shaut, John Szilagyi
کتابخانه: کتابخانه دانشکده مدیریت دانشگاه تهران (طهران)
موضوع : strategy plannig presentation
50. Poland
پدیدآورنده : chapters by John Lawrence Angel, Eldon R. Burke, Joseph C. Gidynski and others; Edited by Bernadotte E. Schmitt
کتابخانه: كتابخانه دانشكده حقوق و علوم سیاسی دانشگاه تهران (طهران)
موضوع : Poland-- Hist,Poland-- Civilization
رده :
DK413
.
S3
51. Problems in anesthesia :
پدیدآورنده : edited by Joseph E. Arrowsmith, John Simpson
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Anesthesia in cardiology,Anesthesia in cardiology, Case studies,Anesthesia-- Methods,Anesthesia-- contraindications,Anesthesia-- methods,Cardiac Surgical Procedures-- methods,Thoracic Surgical Procedures-- methods,Vascular Surgical Procedures-- methods
52. Saussure /
پدیدآورنده : John E Joseph
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Saussure, Ferdinand de,1857-1913,Linguists-- Switzerland, Biography
رده :
P85
.
S18
J67
2012
53. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis /
پدیدآورنده : by Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Materials science.,Measurement.,Microscopy.,Physical measurements.,Spectrum analysis.,Biological Microscopy.,Characterization and Evaluation of Materials.,Materials science.,Materials Science.,Measurement Science and Instrumentation.,Measurement.,Microscopy.,Physical measurements.,Spectroscopy and Microscopy.,Spectroscopy.,Spectroscopy/Spectrometry.,Materials science.,Measurement.,Microscopy.,Physical measurements.,Spectrum analysis.
رده :
TA404
.
6
54. Scanning electron microscopy and x-ray microanalys
پدیدآورنده : Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع : ، Scanning electron microscopy,، Microscopy, Electron, Scanning,، Scanning electron microscopy
رده :
QH
212
.
S3
S29
2018
55. Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
پدیدآورنده : Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Scanning electron microscopy.,Biology, life sciences.,Mensuration & systems of measurement.,Scanning electron microscopy.,Science-- Life Sciences-- General.,Science-- Spectroscopy & Spectrum Analysis.,Science-- Weights & Measures.,Spectrum analysis, spectrochemistry, mass spectrometry.,Technology & Engineering-- Material Science.,Testing of materials.
رده :
QH212
.
S3
56. Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
پدیدآورنده : Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Scanning electron microscopy.,Microscopy, Electron, Scanning.,Scanning electron microscopy.,Science.
57. Strategic corporate tax planning
پدیدآورنده : / John E. Karayan, Charles W. Swenson, Joseph W. Neff
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع : Corporations- Taxation- Law and legislation United States,Tax planning United States
رده :
KF6455
.
K37
2002
58. Strategic corporate tax planning
پدیدآورنده : / John E. Karayan, Charles W. Swenson, Joseph W. Neff
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع : Corporations- Taxation- Law and legislation United States,Tax planning United States
رده :
KF6455
.
K37
2002
59. Strategic corporate tax planning
پدیدآورنده : / John E. Karayan, Charles W. Swenson, Joseph W. Neff
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع : Corporations- Taxation- Law and legislation United States,Tax planning United States
رده :
KF6455
.
K37
2002