1. Microscopy of materials : modern imaging methods using electron, x-ray and ion beams
پدیدآورنده : Bowen, D. Keith)David Keith(
کتابخانه: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع : ، Materials - Microscopy
رده :
TA
418
.
7
.
B6
1975b
2. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : Bowen, D. Keith)David Keith(
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع : ، Semiconductors- Design and construction- Quality control,، Integrated circuits- Measurement,، Semiconductor wafers- Inspection,، X-rays- Diffraction,، Fluroscopy
رده :
TK
7874
.
58
.
B69
2006