1. Testability concepts for digital ICs : the macro test approach
پدیدآورنده : Beenker, F. P. M.)Frans P. M.(
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : ، Digital integrated circuits-- Testing,، Automatic checkout equipment
رده :
TK
7874
.
65
.
B44
1996