1. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
المؤلف: Bowen, D. Keith )David Keith(
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، Semiconductors-- Design and construction Quality control,، Integrated circuits-- Measurement,، Semiconductor wafers-- Inspection,، X-rays-- Diffraction,، Fluroscopy
رده :
TK
7874
.
58
.
B69
2006
2. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
المؤلف: Bowen, D. Keith)David Keith(
المکتبة: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع: ، Semiconductors- Design and construction- Quality control,، Integrated circuits- Measurement,، Semiconductor wafers- Inspection,، X-rays- Diffraction,، Fluroscopy
رده :
TK
7874
.
58
.
B69
2006
