1. Digital systems testing and testable design
پدیدآورنده : Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Digital integrated circuits -- Testing,Digital integrated circuits -- Design and construction
رده :
TK
,
7874
,.
A23
,
1990
2. Digital systems testing and testable design
پدیدآورنده : Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (طهران)
موضوع : Digital integrated circuits - Testing,Digital integrated circuits - Design and construction
رده :
TK
7874
.
A23
1990
3. Digital systems testing and testable design
پدیدآورنده : Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اطلاع رساني دانشگاه شاهد (طهران)
موضوع : Digital integrated circuits-- Testing,Digital integrated circuits-- Design and construction
رده :
TK
،
7874
،.
A23
،
1990
4. Digital systems testing and testable design
پدیدآورنده : Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman
کتابخانه: کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران (طهران)
موضوع : Digital integrated circuits - Testing,Digital integrated circuits - Design and construction
رده :
TK
7874
.
A23
1990
5. Digital systems testing and testable design
پدیدآورنده : Abramovici, Miron
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)
موضوع : ، Digital integrated circuits- Testing,، Digital integrated circuits- Design and construction
6. Digital systems testing and testable design
پدیدآورنده : Abramovici, Miron.
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : ، Digital integrated circuits-- Testing,، Digital integrated circuits-- Design and construction
رده :
TK
7874
.
A23
1990b
