1. Fundamentals of nanoscale film analysis
المؤلف: Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer
المکتبة: كتابخانه پژوهشگاه علوم و فناوری رنگ (طهران)
موضوع: Thin films,Nanostructured materials

2. Fundamentals of nanoscale film analysis
المؤلف: Alford, Terry L.
المکتبة: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع: ، Thin films,، Nanostructured materials
رده :
QC
176
.
83
.
A44
2006

