عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
حول الموقع
اتصل بنا
نشأة
ورود / ثبت نام
عنوان
An artificial intelligence approach to test generation
پدید آورنده
/ by Narinder Singh
موضوع
Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده
TK
7874
.
S533
1986
کتابخانه
مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران
محل استقرار
استان:
طهران
ـ شهر:
طهران
تماس با کتابخانه :
88225387
-
021
0-89838-185-1
IR
8048
انگلیسی
IR
An artificial intelligence approach to test generation
[Book]
/ by Narinder Singh
Boston
: Academic Press
, 1987
x, 193 p.
: ill.
; 25 cm
The Kluwer international series in engineering and computer science, SECS 19
English
Includes index
Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing
Expert systems (Computer science)
Artificial intelligence
TK
7874
.
S533
1986
Singh, Narinder, 1956-, author
Iran
University of Tehran. Library of Technical Camp 2
Old cataloging
p
BL
1
Y
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح