• الرئیسیة
  • البحث المتقدم
  • قائمة المکتبات
  • حول الموقع
  • اتصل بنا
  • نشأة
  • ورود / ثبت نام

عنوان
An artificial intelligence approach to test generation

پدید آورنده
/ by Narinder Singh

موضوع
Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence

رده
TK
7874
.
S533
1986

کتابخانه
مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران

محل استقرار
استان: طهران ـ شهر: طهران

مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران

تماس با کتابخانه : 88225387-021

0-89838-185-1

IR
8048

انگلیسی

IR

An artificial intelligence approach to test generation
[Book]
/ by Narinder Singh

Boston
: Academic Press
, 1987

x, 193 p.
: ill.
; 25 cm

The Kluwer international series in engineering and computer science, SECS 19

English

Includes index

Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing
Expert systems (Computer science)
Artificial intelligence

TK
7874
.
S533
1986

Singh, Narinder, 1956-, author

Iran
University of Tehran. Library of Technical Camp 2

Old cataloging

p

BL
1

Y

الاقتراح / اعلان الخلل

تحذیر! دقق في تسجیل المعلومات
ارسال عودة
تتم إدارة هذا الموقع عبر مؤسسة دار الحديث العلمية - الثقافية ومركز البحوث الكمبيوترية للعلوم الإسلامية (نور)
المكتبات هي المسؤولة عن صحة المعلومات كما أن الحقوق المعنوية للمعلومات متعلقة بها
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال