عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7874 .B374 1987
TK
7874
.
B374
1987
کتابخانه
محل استقرار
IR
9107
انگلیسی
IR
Built-in test for VLSI
[Book]
: pseudorandom techniques
/ Paul H. Bardell, William H. McAnny, Jacob Savir
New York
: John Wiley
, 1987
xiii, 354 p.
: ill.
; 24 cm
English
"A Wiley-Interscience Publication"
Includes index
P: 339-345
Integrated circuits--Very large scale integration - Testing
TK
7874
.
B374
1987
Bardell, Paul H, author
McAnny, William H
Savir, Jacob
ایران
University of Tehran. Library of Technical Camp 1
Old cataloging
p
BL
1
Y
