عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
حول الموقع
اتصل بنا
نشأة
ورود / ثبت نام
عنوان
مبانی مترولوژی: (ابعاد، جرم، فشار، نیرو، دما، الکتریک، عدم قطعیت اندازه گیری)
پدید آورنده
/ جیاماس سیلوا,عنوان اصلی: Basic metrology for ISO9000 certification ,2002.
موضوع
ابزار اندازهگیری -- کالیبراسیون,استانداردهای ایزو۹۰۰۰ ,کیفیت فراگیر -- مدیریت
رده
QC
۱۰۰
/
۵
/
د
۵،
م
۲
کتابخانه
كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران
محل استقرار
استان:
خوزستان
ـ شهر:
أهواز
تماس با کتابخانه :
33360244
-
061
IR
۹۱-۶۸۴
فارسی
IR
مبانی مترولوژی: (ابعاد، جرم، فشار، نیرو، دما، الکتریک، عدم قطعیت اندازه گیری)
[کتاب]
/ جیاماس سیلوا
؛ [مترجم] جواد آذرپرا
تهران
: نص
، ۱۳۸۸-۱۳۸۹.
۲۴۴ص.
:مصور، جدول، نمودار
زبان: فارسی
۲۴۴ص.
عنوان اصلی: Basic metrology for ISO9000 certification ,2002.
چاپی
کتابنامه
ابزار اندازهگیری -- کالیبراسیون
استانداردهای ایزو۹۰۰۰
کیفیت فراگیر -- مدیریت
QC
۱۰۰
/
۵
/
د
۵،
م
۲
د سیلوا، جی. ام. اس
De Silva, G. M. S.
آذرپرا، جواد، ۱۳۵۷ -، مترجم
ایران
فهرستنویسی قبلی
p
BF
1
Y
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح