عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
QH 212 .A78K4
QH
212
.
A78K4
کتابخانه
محل استقرار
Kelvin probe force microscopy : measuring and compensating electrostatic forces
Heidelberg
Springer-Verlag
c2012
xiv, 331 p.: ill. )some col.(
Springer series in surface sciences; 84
Includes bibliographies
ISBN: 3642225659
Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel, editors
1
، Atomic force microscopy
Measurement ، Electrostatics
QH
212
.
A78K4
TI
AU Sadewasser, Sascha
AU Glatzel, Thilo
SE
