عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TA 417.25 .X73
TA
417
.
25
.
X73
کتابخانه
محل استقرار
X-ray characterization of materials
Weinheim
Wiley-VCH
c1999
xvi, 261 p.: ill.
Includes bibliographies
ISBN: 3527296573
Eric Lifshin )ed.(
1
Analysis ، Materials
، Surfaces )Technology( -- Analysis
Industrial applications ، X-rays
TA
417
.
25
.
X73
TI
AU Lifshin, Eric
