عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
QC 176.84 .S93T46 1984
QC
176
.
84
.
S93T46
1984
کتابخانه
محل استقرار
Thin film and depth profile analysis
Berlin
Springer-Verlag
c1984
xi, 205p.: ill
Topics in current physics; 73
Includes bibliographies
ISBN: 3540133208
edited by H., Oechsner; with contributions by H.-W. Etzkorn...]et al.[
1
Surfaces ، Thin films
، Surface chemistry
، Sputtering )Physics(
QC
176
.
84
.
S93T46
1984
TI
AU Oechsner, Hans, 1934-
AU Etzkorn, H. W.
SE
