• الرئیسیة
  • البحث المتقدم
  • قائمة المکتبات
  • حول الموقع
  • اتصل بنا
  • نشأة
  • ورود / ثبت نام

عنوان
Defect and Microstructure Analysis by Diffraction

پدید آورنده
/ Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, Hans J. Bunge

موضوع
Diffraction,Diffraction-- Defects

رده
535
.
42
S675D

کتابخانه
المكتبة المركزية ومركز الوثائق بجامعة آراك

محل استقرار
استان: مرکزي ـ شهر: أراک

المكتبة المركزية ومركز الوثائق بجامعة آراك

تماس با کتابخانه : 08632622404

IR
7210

انگلیسی

IR

Defect and Microstructure Analysis by Diffraction
[Book]
/ Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, Hans J. Bunge

Oxford
: Oxford University press
, 1999.

xxii,785p.
:
;Fig,Table

Language: انگلیسی
Includes bibliographical references

Print

Diffraction
Diffraction-- Defects

535
.
42
S675D

Snyder, Robert L.

Fiala, Jaroslav
Bunge, Hans J

ایران
دانشگاه اراک

535.42 S675D

old catalog

p

BL
1

a
Y

الاقتراح / اعلان الخلل

تحذیر! دقق في تسجیل المعلومات
ارسال عودة
تتم إدارة هذا الموقع عبر مؤسسة دار الحديث العلمية - الثقافية ومركز البحوث الكمبيوترية للعلوم الإسلامية (نور)
المكتبات هي المسؤولة عن صحة المعلومات كما أن الحقوق المعنوية للمعلومات متعلقة بها
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال