عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
QC 176.83 .A44 2006
QC
176
.
83
.
A44
2006
کتابخانه
محل استقرار
Fundamentals of nanoscale film analysis
New York
Springer
2007
xiv,336 p. : illus, charts.
Includes bibliographical references and index
Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer
1
، Thin films
، Nanostructured materials
QC
176
.
83
.
A44
2006
Alford, Terry L.
AU
AU Feldman, Leonard C.
AU Mayer, James W. 1930-
TI
