عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
EB, TA1637 .L42 2005
EB
,
TA1637
.
L42
2005
کتابخانه
محل استقرار
استان: خراسان رضوی ـ شهر: مشهد
354022680X
IR
222 EBL
انگلیسی
IR
CCD image sensors in deep-ultraviolet
[Book]
:Degradation behavior and damage mechanisms [electronic resource]
/ F.M. Li, A. Nathan
Berlin ;New York
: Springer
, 2005.
xi, 231 p.
: ill., chart
(Microtechnology and MEMS)
Electronic
Index
Bibliography: p.223-227
Glossary
Image processing--Digital techniques
Remote sensing
Service life (Engineering)
Charge coupled devices
EB
,
TA1637
.
L42
2005
Li, F. M.
Nathan, Arokia، 1957-
ایران
CCD image sensors in deep-ultraviolet
CCD image sensors in deep-ultraviolet۱
عادی
عادی
محرمانه
محرمانه
Nathan_CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet.pdf
Nathan_CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet1.pdf
2591123
2591123
مدیر
مدیر
متن
متن
0
0
222 EBL
222 EBL
old catalog
e
BL
1
a
Y
