عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TA417.23 .R66 2012
TA417
.
23
.
R66
2012
کتابخانه
محل استقرار
استان: أذربایجان الشرقیة ـ شهر: تبریز
9783642201189
IR
92-4964
انگلیسی
IR
Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)
[Book]
/ Yonghua Rong
Heidelberg ; New York
: Springer
, 2012.
xviii, 552 p.
: ill
; 24cm
Language: انگلیسی
Print
Includes bibliographical references and index
Nanostructured materials - Nondestructive testing
Electron microscopy
TA417
.
23
.
R66
2012
Rong, Yonghua
ایران
old catalog
p
BL
1
a
Y
