عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
حول الموقع
اتصل بنا
نشأة
ورود / ثبت نام
عنوان
Microelectronic test structures for CMOS technology
پدید آورنده
/ Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
موضوع
Metal oxide semiconductors, Complementary--Testing
رده
TK7871
.
99
.
M44B49
2011
کتابخانه
المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر
محل استقرار
استان:
أذربایجان الشرقیة
ـ شهر:
تبریز
تماس با کتابخانه :
04133294120
-
04133294118
9781441993762
IR
91-626
انگلیسی
IR
Microelectronic test structures for CMOS technology
[Book]
/ Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
New York
: springer
, 2011.
xxxiv, 373 pages
: ill
; 24 cm
Language: انگلیسی
Print
Includes bibliographical references and index.
Metal oxide semiconductors, Complementary--Testing
TK7871
.
99
.
M44B49
2011
Bhushan, Manjul
Ketchen, Mark B
ایران
old catalog
p
BL
1
a
Y
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح