• الرئیسیة
  • البحث المتقدم
  • قائمة المکتبات
  • حول الموقع
  • اتصل بنا
  • نشأة

عنوان
Defect and microstructure analysis by diffraction

پدید آورنده
/ Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala and Hans J. Nunge

موضوع
Crystals - Defects - Analysis,Diffraction,X-ray crystallography

رده
QD945
.
S58
1999

کتابخانه
المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر

محل استقرار
استان: أذربایجان الشرقیة ـ شهر: تبریز

المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر

تماس با کتابخانه : 04133294120-04133294118

(V.1)
0-19-850189-7

IR
81-391

انگلیسی

IR

Defect and microstructure analysis by diffraction
[Book]
/ Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala and Hans J. Nunge

Oxford
: Oxford University Press
, 1999.

xii, 785p.
: ill.
; 24cm

(International Union of Crystallography monographs on crystallography
; 10)

Language: انگلیسی

Print

Includes bibliographical references and index

Crystals - Defects - Analysis
Diffraction
X-ray crystallography

QD945
.
S58
1999

Snyder, Robert L.

Fiala,Jaroslav
Bunge, Hans J

ایران

old catalog

p

BL
1

a
Y

الاقتراح / اعلان الخلل

تحذیر! دقق في تسجیل المعلومات
ارسال عودة
تتم إدارة هذا الموقع عبر مؤسسة دار الحديث العلمية - الثقافية ومركز البحوث الكمبيوترية للعلوم الإسلامية (نور)
المكتبات هي المسؤولة عن صحة المعلومات كما أن الحقوق المعنوية للمعلومات متعلقة بها
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال