عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
حول الموقع
اتصل بنا
نشأة
ورود / ثبت نام
عنوان
Defect and microstructure analysis by diffraction
پدید آورنده
/ Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala and Hans J. Nunge
موضوع
Crystals - Defects - Analysis,Diffraction,X-ray crystallography
رده
QD945
.
S58
1999
کتابخانه
المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر
محل استقرار
استان:
أذربایجان الشرقیة
ـ شهر:
تبریز
تماس با کتابخانه :
04133294120
-
04133294118
(V.1)
0-19-850189-7
IR
81-391
انگلیسی
IR
Defect and microstructure analysis by diffraction
[Book]
/ Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala and Hans J. Nunge
Oxford
: Oxford University Press
, 1999.
xii, 785p.
: ill.
; 24cm
(International Union of Crystallography monographs on crystallography
; 10)
Language: انگلیسی
Print
Includes bibliographical references and index
Crystals - Defects - Analysis
Diffraction
X-ray crystallography
QD945
.
S58
1999
Snyder, Robert L.
Fiala,Jaroslav
Bunge, Hans J
ایران
old catalog
p
BL
1
a
Y
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح