عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
حول الموقع
اتصل بنا
نشأة
ورود / ثبت نام
عنوان
Fundamentals of nanoscale film analysis
پدید آورنده
/ Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer
موضوع
Thin films,Nanostructured materials
رده
E-BOOK
کتابخانه
المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية
محل استقرار
استان:
أذربایجان الشرقیة
ـ شهر:
تماس با کتابخانه :
04133443834
9780387292601 (hbk.)
IR
EN-50436
انگلیسی
IR
Fundamentals of nanoscale film analysis
[Book]
/ Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer
New York, N.Y. ;London
: Springer,
, c2007.
xiv, 336 p. , ill. , 25 cm.
Electronic
Includes bibliographical references and index.
Thin films
Nanostructured materials
E-BOOK
Alford, Terry L.
Feldman, Leonard C
Mayer, James W.,1930-
ایران
9780387292601.pdf
عادی
عادی
9780387292601.pdf
متن
old catalog
e
BL
1
a
Y
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح