عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
عنوان
Run-to-run control in semiconductor manufacturing
پدید آورنده
/ edited by James Moyne, Enrique del Castillo, Arnon Max Hurwitz
موضوع
Semiconductor--Design and construction,Semiconductor industr--Production control,Electronic packaging,Production management
رده
E-BOOK
کتابخانه
المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية
محل استقرار
استان:
أذربایجان الشرقیة
ـ شهر:
تماس با کتابخانه :
04133443834
0849311780 (alk. paper)
IR
EN-55570
انگلیسی
IR
Run-to-run control in semiconductor manufacturing
[Book]
/ edited by James Moyne, Enrique del Castillo, Arnon Max Hurwitz
Boca Raton
: CRC Press,
, 2001.
348 p. , ill. , 24 cm.
Electronic
Includes bibliographical references and index.
Semiconductor--Design and construction
Semiconductor industr--Production control
Electronic packaging
Production management
E-BOOK
Moyne, James
Del Castillo, Enrique
Hurwitz, Arnon Max
ایران
0849311780.pdf
عادی
عادی
0849311780.pdf
0
old catalog
e
BL
1
a
Y
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح