عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
حول الموقع
اتصل بنا
نشأة
ورود / ثبت نام
عنوان
Run-to-run control in semiconductor manufacturing
پدید آورنده
/ edited by James Moyne, Enrique del Castillo, Arnon Max Hurwitz
موضوع
Semiconductors, Design and construction,Semiconductor industry, Production control,Electronic packaging,Production management
رده
TK7871
.
85
.
R863
2001
کتابخانه
المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية
محل استقرار
استان:
أذربایجان الشرقیة
ـ شهر:
تماس با کتابخانه :
04133443834
0849311780 (alk. paper)
IR
E-3772
انگلیسی
IR
Run-to-run control in semiconductor manufacturing
[Book]
/ edited by James Moyne, Enrique del Castillo, Arnon Max Hurwitz
Boca Raton, Fla.
: CRC Press
, 2001.
348 p. , ill. , 24 cm.
Print
Includes bibliographical references and index.
Semiconductors, Design and construction
Semiconductor industry, Production control
Electronic packaging
Production management
TK7871
.
85
.
R863
2001
Moyne, James
Del Castillo, Enrique
Hurwitz, Arnon Max
ایران
Run-to-run control in semiconductor manufacturing
عادی
عادی
E-3772.pdf
8380781
مختارزاده
متن
0
E-3772
انگلیسی
old catalog
p
BL
1
a
Y
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح