• الرئیسیة
  • البحث المتقدم
  • قائمة المکتبات
  • حول الموقع
  • اتصل بنا
  • نشأة

عنوان
Fundamental principles of engineering nanometrology

پدید آورنده
/ Richard Leach

موضوع
Metrology,Microtechnology,Nanotechnology

رده
T174
.
7
.
L43
2014

کتابخانه
المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية

محل استقرار
استان: أذربایجان الشرقیة ـ شهر:

المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية

تماس با کتابخانه : 04133443834

9781455777532

IR
13962

انگلیسی

IR

Fundamental principles of engineering nanometrology
[Book]
/ Richard Leach

2nd ed

Oxford, OX
: Elsevier, William Andrew
, 2014.

xxi,384 pages
: illus

(Micro & nano technologies series.)

Language: انگلیسی
Description based upon print version of record.

Print - Electronic

Includes bibliographical references and index.

Micro & nano technologies

Metrology
Microtechnology
Nanotechnology

T174
.
7
.
L43
2014

Leach, R. K., author

ایران

Fundamental Principles of Engineering Nanometrology/
عادی
عادی
Fundamental-Principles-of-Engineering-Nanometrology-Second-Edition.pdf
0
ایمانی
متن
0
13962
انگلیسی

old catalog

pe

BL
1

a
Y

الاقتراح / اعلان الخلل

تحذیر! دقق في تسجیل المعلومات
ارسال عودة
تتم إدارة هذا الموقع عبر مؤسسة دار الحديث العلمية - الثقافية ومركز البحوث الكمبيوترية للعلوم الإسلامية (نور)
المكتبات هي المسؤولة عن صحة المعلومات كما أن الحقوق المعنوية للمعلومات متعلقة بها
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال