عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
QC176.83 .A44 2006
QC176
.
83
.
A44
2006
کتابخانه
محل استقرار
9780387292
0387292608
0387292616
9780387292
IR
EB23422
انگلیسی
IR
Fundamentals of nanoscale film analysis
[Electronic Resource]
/ Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer
New York, N.Y. ; London
: Springer,
, c2007.
xiv, 336 p. ill. 25 cm.
e
ng
Includes bibliographical references and index.
Thin films
Nanostructured materials
621
.
3815
.
2
QC176
.
83
.
A44
2006
Alford, Terry L.
Feldman, Leonard C
Mayer, James W.,1930-
ایران
0387292608.pdf
محرمانه
محرمانه
0387292608.pdf
0
متن
old catalog
e
BL
1
a
Y
