عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TA 417 .23 .F85 2008
TA
417
.
23
.
F85
2008
کتابخانه
محل استقرار
Transmission electron microscopy and diffractometry of materials
Berlin
Springer-Verlag
2008
XIX, 758 p. : ill
Includes bibliographical references and index
Brent Fultz, James Howe
، Materials - Microscopy
، Transmission electron microscopy
، X-ray diffractometer
TA
417
.
23
.
F85
2008
NO
Fultz, Brent
AU
AU Howe, James M. 1955-
TI
