عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
حول الموقع
اتصل بنا
نشأة
ورود / ثبت نام
عنوان
Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching: application to rough and natural surfaces
پدید آورنده
Kaupp, Gerd
موضوع
، Atomic force microscopy,، Near-field microscopy
رده
QH
212
.
A78
K38
کتابخانه
كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى
محل استقرار
استان:
طهران
ـ شهر:
طهران
تماس با کتابخانه :
88881052
-
88881042
-
021
Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching: application to rough and natural surfaces
Berlin ; New York
Springer-Verlag
c2006
xii, 292 p. : ill
Nanoscience and technology
1434-4904
Includes bibliographical references and index
G. Kaupp
، Atomic force microscopy
، Near-field microscopy
QH
212
.
A78
K38
Kaupp, Gerd
AU
TI
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح