عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TA 417 .23 .F85
TA
417
.
23
.
F85
کتابخانه
محل استقرار
Transmission electron microscopy and diffractometry of materials
Berlin
Springer-Verlag
2001
XIX, 748 p. : ill
Includes bibliographical references and index
Brent Fultz, James Howe
1
1
2
3
4
، Materials - Microscopy
، Transmission electron microscopy
، X-ray diffractometer
TA
417
.
23
.
F85
NO
Fultz, Brent
AU
AU Howe, James M. 1955-
TI
