عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
إختر اللغة
فارسی
English
العربی
عنوان
An introduction to logic circuit testing /
پدید آورنده
Parag K. Lala
موضوع
Digital electronics-- Testing,Electric fault location,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Logic circuits-- Testing
رده
کتابخانه
کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی
محل استقرار
استان:
قم
ـ شهر:
قم
تماس با کتابخانه :
32910706
-
025
1598293508 (pbk.)
9781598293500 (pbk.)
b516819
An introduction to logic circuit testing /
[Book]
Parag K. Lala
[San Rafael, Calif.] :
Morgan & Claypool Publishers,
c2009
x, 99 p. :
ill. ;
24 cm
Synthesis lectures on digital circuits and systems ;
#17
Includes bibliographical references
Introduction -- Fault detection in logic circuits -- Design for testability -- Built-in self-test
0
Digital electronics-- Testing
Electric fault location
Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing
Logic circuits-- Testing
Lala, Parag K.,1948-
20090601104043.0
مطالعه متن کتاب
[Book]
Y
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح