• الرئیسیة
  • البحث المتقدم
  • قائمة المکتبات
  • حول الموقع
  • اتصل بنا
  • نشأة

عنوان
An introduction to logic circuit testing /

پدید آورنده
Parag K. Lala

موضوع
Digital electronics-- Testing,Electric fault location,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Logic circuits-- Testing

رده

کتابخانه
کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی

محل استقرار
استان: قم ـ شهر: قم

کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی

تماس با کتابخانه : 32910706-025

1598293508 (pbk.)
9781598293500 (pbk.)

b516819

An introduction to logic circuit testing /
[Book]
Parag K. Lala

[San Rafael, Calif.] :
Morgan & Claypool Publishers,
c2009

x, 99 p. :
ill. ;
24 cm

Synthesis lectures on digital circuits and systems ;
#17

Includes bibliographical references

Introduction -- Fault detection in logic circuits -- Design for testability -- Built-in self-test
0

Digital electronics-- Testing
Electric fault location
Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing
Logic circuits-- Testing

Lala, Parag K.,1948-

20090601104043.0

 مطالعه متن کتاب 

[Book]

Y

الاقتراح / اعلان الخلل

تحذیر! دقق في تسجیل المعلومات
ارسال عودة
تتم إدارة هذا الموقع عبر مؤسسة دار الحديث العلمية - الثقافية ومركز البحوث الكمبيوترية للعلوم الإسلامية (نور)
المكتبات هي المسؤولة عن صحة المعلومات كما أن الحقوق المعنوية للمعلومات متعلقة بها
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال