عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
إختر اللغة
فارسی
English
العربی
عنوان
Transient-induced latchup in CMOS integrated circuits /
پدید آورنده
Ming-Dou Ker and Sheng-Fu Hsu
موضوع
Metal oxide semiconductors, Complementary-- Defects,Metal oxide semiconductors, Complementary-- Reliability
رده
TK7871
.
99
.
M44
K47
2009
کتابخانه
کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی
محل استقرار
استان:
قم
ـ شهر:
قم
تماس با کتابخانه :
32910706
-
025
0470824077 (cloth)
9780470824078 (cloth)
b412738
Transient-induced latchup in CMOS integrated circuits /
[Book]
Ming-Dou Ker and Sheng-Fu Hsu
[Piscataway, NJ] :
IEEE Press,
c2009
xiii, 249 p. :
ill. ;
26 cm
Includes bibliographical references and index
Metal oxide semiconductors, Complementary-- Defects
Metal oxide semiconductors, Complementary-- Reliability
621
.
39/5
22
TK7871
.
99
.
M44
K47
2009
Ker, Ming-Dou
Hsu, Sheng-Fu
20091104165239.0
مطالعه متن کتاب
[Book]
Y
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح