عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
E-Book ,
E-Book
,
کتابخانه
محل استقرار
:9781402083624
42357
انگلیسی
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
[Electronic book]
: Process-Aware SRAM Design and Test
\ Andrei Pavlov, Manoj Sachdev
[Dordrecht]
: Springer
, 2008
xvi, 193 p
:ill
Frontiers in electronic testing
; 40
Index
Bibliography
Metal oxide semiconductors, Complementary -- Design.
Random access memory.
نیمه هادیهای اکسید فلزی مکمل -- طراحی
حافظه دسترسی تصادفی
E-Book
,
Pavlov, Andrei
Sachdev, Manoj
9781402083624.pdf
BL
278840
1
