عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
إختر اللغة
فارسی
English
العربی
عنوان
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
پدید آورنده
\ Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes
موضوع
Logic circuits -- Design,Logic circuits -- Testing,Uncertainty (Information theory),مدارهای منطقی -- طراحی,مدارهای منطقی -- آزمایش,عدم قطعیت (نظریه اطلاعات)
رده
E-Book
,
کتابخانه
کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی
محل استقرار
استان:
قم
ـ شهر:
قم
تماس با کتابخانه :
37839111
:9789048196432
39172
انگلیسی
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
[electronic resources]
\ Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes
; New York
: Springer
, 2013
xi, 123p.
:ill.
Lecture Notes in Electrical Engineering
; 115
Index
Bibliography
Logic circuits -- Design
Logic circuits -- Testing
Uncertainty (Information theory)
مدارهای منطقی -- طراحی
مدارهای منطقی -- آزمایش
عدم قطعیت (نظریه اطلاعات)
E-Book
,
AuthoKrishnaswamy, Smita
Markov, Igor Leonidovich, 1973-
Hayes, John Patrick, 1944-
ایران
20201122
9789048196432.pdf
BL
279177
1
a
N
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح