عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
عنوان
Analog ic reliability in nanometer cmos
پدید آورنده
Maricau, Elie
موضوع
، Systems engineering,، Applied physical engineering
رده
TK
7874
.
654
.
R56
2013
کتابخانه
کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی
محل استقرار
استان:
طهران
ـ شهر:
طهران
تماس با کتابخانه :
46831570
-
021
electronic
Maricau, Elie
Analog ic reliability in nanometer cmos
New York
Springer
2013
XVI, 198 p. 95 illus., 27 illus. in color
Elie Maricau, Georges Gielen
، Systems engineering
، Applied physical engineering
TK
7874
.
654
.
R56
2013
TI
AU Gielen, Georges
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح