عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
إختر اللغة
فارسی
English
العربی
عنوان
Run-to-run control in semiconductor manufacturing
پدید آورنده
edited by James Moyne, Enrique del Castillo, Arnon Max Hurwitz
موضوع
Design and construction ، Semiconductors,Production control ، Semiconductor industry,، Electronic packaging,، Production management
رده
TK
7871
.
85
.
R863
2001
کتابخانه
کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی
محل استقرار
استان:
طهران
ـ شهر:
طهران
تماس با کتابخانه :
46831570
-
021
electronic
Run-to-run control in semiconductor manufacturing
Boca Raton
CRC Press
2001
348 p. : ill. ; 24 cm
Includes bibliographical references and index
edited by James Moyne, Enrique del Castillo, Arnon Max Hurwitz
Design and construction ، Semiconductors
Production control ، Semiconductor industry
، Electronic packaging
، Production management
TK
7871
.
85
.
R863
2001
TI
AU Moyne, James
AU Del Castillo, Enrique
AU Hurwitz, Arnon Max
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح