عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
QD 945 .S58 1999
QD
945
.
S58
1999
کتابخانه
محل استقرار
electronic
Snyder, R. L. )Robert L.(
1491-
Defect and microstructure analysis by diffraction
Oxford ; New York
Oxford University Press
1999
xxii, 785 p. : ill. ; 24 cm
International Union of Crystallography monographs on crystallography ;01
Includes bibliographical references and index
Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, and Hans J. Bunge
Defects Analysis ، Crystals
، Diffraction
، X-ray crystallography
QD
945
.
S58
1999
AU
AU Fiala, Jaroslav
AU Bunge, H.-J.)Hans Joachim(
TI
SE
