عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7871.99 .M44 S23 2007
TK
7871
.
99
.
M44
S23
2007
کتابخانه
محل استقرار
3151
Sachdev, Manoj.
Defect oriented testing for nano metric CMOS vlsi circuits
springer
2007
ISBN: 0387465464 9780387465463 0387465472 9780387465470
Includes bibliographical references and index.
ng
by Manoj Sachdev
، Metal oxide semiconductors, Complementary- Testing
، Metal oxide semiconductors, Complementary- Defects
box1
TK
7871
.
99
.
M44
S23
2007
AU
TI
1
