عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
کتابخانه
محل استقرار
1968
Fan, Yongquan.
Accelerating test, validation and debug of high speed serial interfaces
Dordrecht ;London ;New York
Springer
2011
xii 194 p. , ill. , 24 cm.
Includes bibliographical references )p. ]183[-192( and index.
، Interface circuits, Testing
، Very high speed integrated circuits, Testing
621
.
381548
AU
Yongquan Fan, Zeljko Zilic
AU .okjleZ ,ciliZ
TI
لاه دیجیتانابخکت
