عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
إختر اللغة
فارسی
English
العربی
عنوان
Yield and reliability in microwave circuit and system design
پدید آورنده
Meehan, Michael D.
موضوع
، Microwave integrated circuits- Design and construction- Statistical methods,، Engineering design- Statistical methods,، Computer- aided design
رده
کتابخانه
كتابخانه پژوهشگاه نیرو
محل استقرار
استان:
طهران
ـ شهر:
طهران
تماس با کتابخانه :
9
-
88079401
-
021
6758
6871
Meehan, Michael D.
Yield and reliability in microwave circuit and system design
Boston
Artech House
c1993
xviii, 276 p. :ill. ;24 cm
Artech House microwave library
Includes bibliographical references and index.
، Microwave integrated circuits- Design and construction- Statistical methods
، Engineering design- Statistical methods
، Computer- aided design
621
.
381/32
TK
7876
.
M3892
1993
AU
Michael D. Meehan and John Purviance
AU .nhoJ ,ecnaivruP
TI
هت شبکل و مدیریه کنترپژوهشکد
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح