عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7875 .R45 2011
TK
7875
.
R45
2011
کتابخانه
محل استقرار
153166
بهار۰۹
English
)50(
Reliability of microtechnology: interconnects, devices and systems
New York
Springer
2011
xiii, 204 p.: ill.; 24 cm
Includes bibliographical references and index
، Microtechnology
Reliability ، Microtechnology
، Microelectromechanical systems
، Nanotechnology
TK
7875
.
R45
2011
TI
Johan Liu ... ]et al.[
AU nahoJ ,uiL
05
