عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
QC 611 .S335 2006
QC
611
.
S335
2006
کتابخانه
محل استقرار
140479
بهار۵۸
English
)50(
Schroder, Dieter K.
Semiconductor material and device characterization
]Piscataway, NJ[; Hoboken, N.J.
IEEE Press; Wiley
2006
xv, 779 p.: ill.; 25 cm
"Wiley-Interscience"
Includes bibliographical references and index
3rd ed
، Semiconductors
Testing ، Semiconductors
QC
611
.
S335
2006
AU
Dieter K. Schroder
TI
05
